射頻易商城_微波開關芯片_射頻與微波開關測試方法①
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射頻和微波開關測試①
引言： 本文討論射頻和微波測試中如何提高測試吞吐量， 并降低測試成本的方法及其測試系統基礎。 無線通信產業的巨大成長意味著對于無線設備的元器件和組件的測試迎來了大爆發， 包括對組成通信系統的各種 RFIC 和微波單片集成電路的測試。 這些測試通常需要很高的頻率， 普遍都在 GHz 范圍。 本文討論了射頻和微波開關測試系統中的關鍵問題， 包括不同的開關種類， RF 開關卡規格和有助于測試工程師提高測試吞吐量并降低測試成本的 RF 開關設計中需要考慮的問題。無線通信產業的成長意味著無線設備的元器件和組件測試迎來了大爆發時期， 這些測試包括對組成通信系統的各種 RF 器件和微波單片集成電路進行的測試。 上述測試通常需要很高的頻率， 普遍都在 GHz 范圍。 如何解決射頻和微波開關測試系統中的關鍵問題， 包括不同的開關種類、 RF 開關卡規格等， 幫助測試工程師提高測試吞吐量， 并降低測試成本， 成為 RF 開關設計中需要考慮的問題。射頻開關和低頻開關的區別將一個信號從一個頻點轉換到另一個頻點看起來很容易， 但要實現極低的信號損耗， 實現起來卻面臨一系列問題。設計低頻和直流（DC）信號的開關系統都需要考慮它們特有的參數， 包括接觸電位、 建立時間、 偏置電流和隔離特性等。 高頻信號與低頻信號類似， 也需要考慮其特有的參數。 這些參數會影響開關過程中的信號性能， 這些參數包括 VSWR（電壓駐波比）、 插入損耗、 帶寬和通道隔離等。 另外， 硬件因素比如端接、連接器類型、繼電器類型， 也會極大地影響這些參數。
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